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Hybrid Bonding(混合键合)技术结合铜-铜(Cu-Cu)直接键合与介电层对介电层键合(SiO₂或SiCN等),实现无焊料、纳米级互连。其工艺过程包括初始键合后通过热退火处理(300°C至400°C)促进介质反应和金属互扩散,形成永久键合。该技术主要分为晶圆到晶圆(W2W)键合和芯片到晶圆(D2W)键合两种类型,前者适用于面积较小、良率较高的芯片,后者适用于大芯片和异构集成。

传统HBM制造采用TSV+微凸点(Micro Bump)工艺,面临多重挑战:
互连密度受限:微凸点间距通常为40μm,限制通道数量
延迟偏高:多层结构导致信号路径延长,影响时钟同步与吞吐
封装复杂性高:焊料使用带来热应力与可靠性问题
功耗问题:互连电阻和寄生电容导致动态功耗偏高
制造难度增加:HBM4凸点间距缩小至10微米,芯片减薄至20微米后翘曲问题严重
共面性挑战:凸点高度不一致导致机械应力、互连疲劳或热循环失效
超高密度互连:互连间距<10μm(传统40μm),较热压键合技术提高15倍密度
低功耗特性:消除焊料凸点显著降低互连电阻,整体封装功耗降低30~40%
低延迟传输:信号速度提升11.9倍,带宽密度提升191倍
热管理优化:紧凑结构和直接导电路径降低20%堆叠热阻
信号完整性:低串扰、高带宽,提升数据传输可靠性
混合架构(现阶段):TSV用于逻辑Die与DRAM堆叠连接,DRAM层间采用Cu-Cu互连
全混合键合架构(未来方向):完全取消TSV,采用100% Cu-Cu互连,实现>16层堆叠与超高密度封装
空间效率提升:减少87%的TSV互连面积需求,提升空间利用率

| 公司 | 当前阶段 | 混合键合部署情况 |
| SK海力士 | HBM3E已量产 | HBM4全面导入Hybrid Bonding |
| 三星电子 | HBM3使用TSV | HBM4及后续产品开始导入Hybrid |
| 美光科技 | HBM3采用TSV | 开发HBM4+Hybrid,2025年预计量产 |
| 台积电 | 提供CoWoS封装 | 在系统级封装中推广Hybrid Bonding |
华为拥有混合键合专利,为HBM堆叠提供关键技术支撑
佰维存储通过晶圆级扇出工艺、TSV和混合键合等核心技术,将芯片厚度减少30%以上
2025年国产CoWoS-S封装良率达90%,追平国际最先进水平
混合键合型HBM市场将在2025~2027年迎来爆发
HBM4带宽预期超过2TB/s,容量高达48GB
混合键合相关封装与设备市场将成为半导体产业下一个重点投资方向
面临的挑战与权衡
尽管优势显著,但Hybrid Bonding要取代现有成熟技术,仍需克服几大挑战:
工艺难度与良率:技术对颗粒污染物和有机残留物极度敏感(1µm的颗粒即可导致缺陷),对晶圆表面平整度、清洁度要求极高,导致工艺复杂、良率提升困难且成本高昂。
与现有技术的竞争:传统的微凸块技术仍在持续演进,通过缩小尺寸,预计在10µm间距下仍能支持16层堆叠,凭借其成熟度、高良率和低成本,在未来一段时间内仍将是主流选择。
因此,行业目前处于一个并行发展阶段,厂商会根据产品性能、成本和上市时间的综合需求,在微凸块和混合键合之间做出选择。
1. 工艺挑战
表面平整度:介电表面粗糙度需<0.5nm,铜焊盘<1nm,需化学机械抛光(CMP)作为关键步骤
清洁度要求:需ISO 3级或更好洁净室环境,1微米颗粒可导致直径10毫米的粘合空隙
对准精度:W2W键合系统需实现<50nm的对准精度
热预算管理:HBM应用要求较低沉积和退火温度(<300-350°C),防止DRAM刷新退化
混合键合工艺成本较传统工艺增加30%以上
设备供应链变动:应用材料收购Besi股份,进入混合键合设备市场
全球封装设备主导权或从韩国厂商向欧美设备巨头逐步转移
Hybrid Bonding的应用将深刻影响HBM乃至整个半导体产业链:
技术节点成为分水岭:行业共识是,当HBM堆叠层数迈向20层(HBM5世代)及以上时,混合键合将从“可选项”变为“必选项”,以满足极致的带宽、功耗和封装厚度要求。
驱动设备市场增长:Hybrid Bonding创造了新的高端设备需求。预计到2028年,其设备市场规模可能达到近20亿美元。目前市场由荷兰Besi公司主导,但韩国厂商(如韩美半导体、韩华、LG电子)正大力投资研发,计划在未来几年推出产品,以期改变竞争格局。
重塑产业链生态:这项技术将带动从新材料、精密抛光/蚀刻设备到检测方案等一系列供应链的升级。同时,它也催生了新的合作模式,例如三星为了加速其3D NAND技术开发,选择从长江存储获得相关专利授权
技术融合:混合键合将与Chiplet、3D IC技术融合,构建更高集成度的系统封装平台
架构创新:高密度互连使设计人员能够对芯片功能进行模块化和异构集成
应用场景扩展:从AI服务器向消费电子(如iPhone)、边缘计算和自动驾驶等领域扩展
产业格局重塑:随着各国"主权AI"战略推进,HBM作为核心基础设施将发挥更加重要的作用
Hybrid Bonding技术不仅是HBM3E和HBM4的关键技术支撑点,更可能成为整个高带宽、低功耗系统封装的新范式。其对功耗控制、信号完整性、封装紧凑性和系统集成度的全面优化,为未来AI/HPC应用提供了坚实基础。随着主流存储厂商和设备企业加速布局,混合键合将在未来3~5年内成为高端封装领域的"新基石",推动HBM技术持续演进,重塑全球半导体竞争格局。
先进封装清洗-beats365唯一官网入口官方版锡膏助焊剂清洗剂介绍:
水基清洗的工艺和设备配置选择对清洗精密器件尤其重要,一旦选定,就会作为一个长期的使用和运行方式。水基清洗剂必须满足清洗、漂洗、干燥的全工艺流程。
污染物有多种,可归纳为离子型和非离子型两大类。离子型污染物接触到环境中的湿气,通电后发生电化学迁移,形成树枝状结构体,造成低电阻通路,破坏了电路板功能。非离子型污染物可穿透PC B 的绝缘层,在PCB板表层下生长枝晶。除了离子型和非离子型污染物,还有粒状污染物,例如焊料球、焊料槽内的浮点、灰尘、尘埃等,这些污染物会导致焊点质量降低、焊接时焊点拉尖、产生气孔、短路等等多种不良现象。
这么多污染物,到底哪些才是最备受关注的呢?助焊剂或锡膏普遍应用于回流焊和波峰焊工艺中,它们主要由溶剂、润湿剂、树脂、缓蚀剂和活化剂等多种成分,焊后必然存在热改性生成物,这些物质在所有污染物中的占据主导,从产品失效情况来而言,焊后残余物是影响产品质量最主要的影响因素,离子型残留物易引起电迁移使绝缘电阻下降,松香树脂残留物易吸附灰尘或杂质引发接触电阻增大,严重者导致开路失效,因此焊后必须进行严格的清洗,才能保障电路板的质量。
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